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Aperçu gratuit du livre From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications

From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications

Jitendra B Khare , Wojciech Maly
30 avril 1996
142,95 $
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
150
Frontiers in Electronic Testing
Publié par: Springer US
Dimensions à l’expédition: 9" H x 6" W x 1" L
ISBN: 9780792397144
Étape de vie: null

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