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Aperçu gratuit du livre Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns

Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns

Said Hamdioui
31 mars 2004
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
221
Frontiers in Electronic Testing
Publié par: Springer/Sci-Tech/Trade
Dimensions à l’expédition: 9" H x 6" W x 1" L
ISBN: 9781402077524
Étape de vie: null

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