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Aperçu gratuit du livre Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents

Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents

Adam Foster , Werner A. Hofer
28 juin 2006
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
282
NanoScience and Technology
Publié par: Springer/Sci-Tech/Trade
Dimensions à l’expédition: 9" H x 6" W x 1" L
ISBN: 9780387400907
Étape de vie: null

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