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Photo-induced Defects In Semiconductors

David Redfield , Richard H. Bube
26 janvier 1996
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
230
Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering
Publié par: Cambridge University Press
Dimensions à l’expédition: 1" H x 1" W x 1" L
ISBN: 9780521461962
Étape de vie: null

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