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Aperçu gratuit du livre Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach

Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach

Pradeep LALL , Michael G. Pecht , Edward B. Hakim
19 juin 2019
81,50 $
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
336
Publié par: CRC Press
Dimensions à l’expédition: 10" H x 7" W x 1" L
ISBN: 9780367400972
Étape de vie: null

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  • bvseo_sdk, dw_cartridge, 18.2.0, p_sdk_3.2.0
  • CLOUD, getReviews, 6ms
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