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Aperçu gratuit du livre Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons

Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons

Mathias Schubert
23 novembre 2010
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
196
Springer Tracts in Modern Physics
Publié par: Springer/Sci-Tech/Trade
Dimensions à l’expédition: 9" H x 6" W x 1" L
ISBN: 9783642062285
Étape de vie: null

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