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Aperçu gratuit du livre Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination

Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination

Yoshio Waseda
3 octobre 2013
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
214
Springer Tracts in Modern Physics
Publié par: Springer/Sci-Tech/Trade
Dimensions à l’expédition: 9" H x 6" W x 1" L
ISBN: 9783662146378
Étape de vie: null

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