Acheter maintenant et ramasser en magasin

  • Couverture_Materials Reliability In Microelectronics Iii: Volume 309
Aperçu gratuit du livre Materials Reliability In Microelectronics Iii: Volume 309

Materials Reliability In Microelectronics Iii: Volume 309

Édition : Kenneth P. Rodbell , William F. Filter , Harold J. Frost
5 juin 2014
40,10 $
Prix en ligne. Les prix et les offres peuvent différer en magasin.
.
Commande minimum de  1 articles
Vente ferme. Aucun retour ou échange.
La livraison de cet article sera effectuée sur rendez-vous par notre transporteur partenaire.

M’expédier cet article

Vérification des stocks…

Acheter maintenant et ramasser en magasin

Vérification des stocks…

Trouver en magasin

Vérification des stocks…

Obtenez 201 points et profitez d’un rabais additionnel avec plum+.  .

Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
514
MRS Proceedings
Publié par: Cambridge University Press
Dimensions à l’expédition: 1" H x 1" W x 1" L
ISBN: 9781107409484
Étape de vie: null

Vous aimerez peut-être aussi

Cotes et évaluations

  • bvseo_sdk, dw_cartridge, 18.2.0, p_sdk_3.2.0
  • CLOUD, getReviews, 5ms
  • reviews, product
  • bvseo-msg: Unsuccessful GET. status = 'ERROR', msg = 'Not Found.'; Unsuccessful GET. status = 'ERROR', msg = 'Not Found.';

Évaluation éditoriale

kenneth p rodbell

Auteur

D’autres ont aussi acheté