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Aperçu gratuit du livre Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach

Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach

F P M Beenker , R G Bennetts , A P Thijssen
30 novembre 1995
220,95 $
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
212
Frontiers in Electronic Testing
Publié par: Springer US
Dimensions à l’expédition: 9" H x 6" W x 1" L
ISBN: 9780792396581
Étape de vie: null

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