Aperçu gratuit du livre Investigation Of Gate Current In Neutron Irradiated Alxga1-xn/gan Heterogeneous Field Effect Transistors Using Voltage And Temperature Dependence

Investigation Of Gate Current In Neutron Irradiated Alxga1-xn/gan Heterogeneous Field Effect Transistors Using Voltage And Temperature Dependence

Thomas E Gray
16 novembre 2012
60,51 $
Prix en ligne. Les prix et les offres peuvent différer en magasin.
.
Commande minimum de  1 articles
Vente ferme. Aucun retour ou échange.
La livraison de cet article sera effectuée sur rendez-vous par notre transporteur partenaire.

M’expédier cet article

Vérification des stocks…

Acheter maintenant et ramasser en magasin

Vérification des stocks…

Trouver en magasin

Vérification des stocks…

Obtenez 303 points et profitez d’un rabais additionnel avec plum+.  .

Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
128
Publié par: Creative Media Partners, LLC
Dimensions à l’expédition: 10" H x 7" W x 1" L
ISBN: 9781288308347
Étape de vie: null

Cotes et évaluations

  • bvseo_sdk, dw_cartridge, 18.2.0, p_sdk_3.2.0
  • CLOUD, getReviews, 6ms
  • reviews, product
  • bvseo-msg: Unsuccessful GET. status = 'ERROR', msg = 'Not Found.'; Unsuccessful GET. status = 'ERROR', msg = 'Not Found.';

Évaluation éditoriale

Auteur