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Aperçu gratuit du livre Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Manoj Sachdev , Jos Pineda De Gyvez
21 juin 2007
321,50 $
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
328
Frontiers in Electronic Testing
Publié par: Springer/Sci-Tech/Trade
Dimensions à l’expédition: 9" H x 6" W x 1" L
ISBN: 9780387465463
Étape de vie: null

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