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Publié par: Springer Nature Singapore
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ISBN: 9789811985515
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Built-in Fault-tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-scale Chip Design: A Self-test, Self-diagnosis, and Self-repair-based Approach
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Built-in Fault-tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-scale Chip Design: A Self-test, Self-diagnosis, and Self-repair-based Approach
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