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Aperçu gratuit du livre Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

Alvin W. Czanderna Édition : Theodore E. Madey , Cedric J. Powell
6 décembre 2010
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
430
Methods Of Surface Characterization
Publié par: Springer/Sci-Tech/Trade
Dimensions à l’expédition: 9" H x 6" W x 1" L
ISBN: 9781441932990
Étape de vie: null

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Évaluation éditoriale

theodore e madey

Auteur

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