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Aperçu gratuit du livre Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

Édition : Alvin W Czanderna , Theodore E Madey , Cedric J Powell
31 octobre 1998
220,95 $
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
430
Methods Of Surface Characterization
Publié par: Springer US
Dimensions à l’expédition: 9" H x 6" W x 1" L
ISBN: 9780306458965
Étape de vie: null

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alvin w czanderna

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