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Aperçu gratuit du livre Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method

Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method

Pierre-Richard Dahoo
29 avril 2021
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Description

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Langue
anglais
Pages
Publié par: Wiley
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ISBN: 9781119818977
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