Heather’s Pick
Choix du personnel
Écolo
Canada en vedette
Exclusivité Indigo
Livre à succès
Aperçu gratuit du livre Spectroscopic Ellipsometry for the In-situ Investigation of Atomic Layer Depositions

Spectroscopic Ellipsometry for the In-situ Investigation of Atomic Layer Depositions

27 avril 2015
92,50 $
Prix en ligne. Les prix et les offres peuvent différer en magasin.
Commande minimum de  1 articles
Vente ferme. Aucun retour ou échange.
La livraison de cet article sera effectuée sur rendez-vous par notre transporteur partenaire.

M’expédier cet article

Vérification des stocks…

Acheter maintenant et ramasser en magasin

Vérification des stocks…

Trouver en magasin

Vérification des stocks…


Obtenez 463 points et profitez d’un rabais additionnel avec plum+.  .

Description

Publié par: Bod Third Party Titles
Dimensions à l’expédition: 8" H x 6" W x 1" L
ISBN: 9783656923152
Étape de vie: null

Cotes et évaluations

  • bvseo_sdk, dw_cartridge, 18.2.0, p_sdk_3.2.0
  • CLOUD, getReviews, 5ms
  • reviews, product
  • bvseo-msg: Unsuccessful GET. status = 'ERROR', msg = 'Not Found.'; Unsuccessful GET. status = 'ERROR', msg = 'Not Found.';

Évaluation éditoriale


Auteur