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Aperçu gratuit du livre Scanning Probe Microscopy in Industrial Applications: Nanomechanical Characterization

Scanning Probe Microscopy in Industrial Applications: Nanomechanical Characterization

Édition : Dalia G. Yablon
4 décembre 2013
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
368
Publié par: Wiley
Dimensions à l’expédition: 10" H x 6" W x 1" L
ISBN: 9781118288238
Étape de vie: null

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