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Aperçu gratuit du livre Scanning Electron Microscopy And X-ray Microanalysis

Scanning Electron Microscopy And X-ray Microanalysis

Joseph I. Goldstein , Dale E. Newbury , Joseph R. Michael
18 novembre 2017
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
550
Publié par: Springer/Sci-Tech/Trade
Dimensions à l’expédition: 11" H x 8" W x 1" L
ISBN: 9781493966745
Étape de vie: null

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