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Aperçu gratuit du livre Scanning Electron Microscopy And X-ray Microanalysis: Third Edition

Scanning Electron Microscopy And X-ray Microanalysis: Third Edition

Joseph Goldstein , Dale E Newbury , David C Joy
31 janvier 2003
155,95 $
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
689
Publié par: Springer US
Dimensions à l’expédition: 10" H x 7" W x 1" L
ISBN: 9780306472923
Étape de vie: null

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