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Aperçu gratuit du livre Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications

Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications

Jacopo Franco , Ben Kaczer , Guido Groeseneken
29 octobre 2013
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
187
Springer Series In Advanced Microelectronics
Publié par: Springer/Sci-Tech/Trade
Dimensions à l’expédition: 9" H x 6" W x 1" L
ISBN: 9789400776623
Étape de vie: null

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