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Aperçu gratuit du livre Next Generation Technology-enhanced Assessment: Global Perspectives On Occupational And Workplace Testing

Next Generation Technology-enhanced Assessment: Global Perspectives On Occupational And Workplace Testing

Édition : John C. Scott , Dave Bartram , Douglas H. Reynolds
18 juin 2020
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
421
Educational And Psychological Testing In A Global Context
Publié par: Cambridge University Press
Dimensions à l’expédition: 1" H x 1" W x 1" L
ISBN: 9781107561533
Étape de vie: null

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Évaluation éditoriale

john c scott

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