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Aperçu gratuit du livre Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Pierre-Richard Dahoo , Philippe Pougnet , Abdelkhalak El Hami
22 août 2016
217,95 $
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
316
Publié par: Wiley
Dimensions à l’expédition: 10" H x 6" W x 1" L
ISBN: 9781848219366
Étape de vie: null

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