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Aperçu gratuit du livre Characterization Of High Tc Materials And Devices By Electron Microscopy

Characterization Of High Tc Materials And Devices By Electron Microscopy

Édition : Nigel D. Browning , Stephen J. Pennycook
6 juillet 2000
206,95 $
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
406
Publié par: Cambridge University Press
Dimensions à l’expédition: 1" H x 1" W x 1" L
ISBN: 9780521554909
Étape de vie: null

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nigel d browning

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