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  • Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
Aperçu gratuit du livre Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications

Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications

26 mai 2016
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Publié par: Springer Netherlands
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ISBN: 9789400776630
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Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
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