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  • Advances in X-Ray Analysis: Volume 17: Proceedings of the Twenty-Second Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis held in Denver, August 22-24, 1973
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Advances in X-Ray Analysis: Volume 17: Proceedings of the Twenty-Second Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis held in Denver, August 22-24, 1973

C. Grant
28 mai 2013
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
596
Publié par: Springer/Sci-Tech/Trade
Dimensions à l’expédition: 10" H x 7" W x 1" L
ISBN: 9781461399773
Étape de vie: null

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