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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard/fr-ca/power-constrained-testing-of-vlsi-circuits-a-guide-to-the-ieee-1149.4-test-standard/946E63F0-BF7A-4A75-8C14-E298E3876E60.html946E63F0-BF7A-4A75-8C14-E298E3876E60
Power-constrained Testing Of Vlsi Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard