Acheter maintenant et ramasser en magasin

  • Couverture_Lifetime Spectroscopy
Aperçu gratuit du livre Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications

Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications

Stefan Rein
19 octobre 2010
481,95 $
Prix en ligne. Les prix et les offres peuvent différer en magasin.
.
.    En Savoir Plus
Commande minimum de  1 articles
Vente ferme. Aucun retour ou échange.
La livraison de cet article sera effectuée sur rendez-vous par notre transporteur partenaire.

M’expédier cet article

Vérification des stocks…

Acheter maintenant et ramasser en magasin

Vérification des stocks…

Trouver en magasin

Vérification des stocks…

Obtenez 2 410 points et profitez d’un rabais additionnel avec plum+.  .

Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
492
Springer Series in Materials Science
Publié par: Springer/Sci-Tech/Trade
Dimensions à l’expédition: 9" H x 6" W x 1" L
ISBN: 9783642064531
Étape de vie: null

Vous aimerez peut-être aussi

Cotes et évaluations

  • bvseo_sdk, dw_cartridge, 18.2.0, p_sdk_3.2.0
  • CLOUD, getReviews, 5ms
  • reviews, product
  • bvseo-msg: Unsuccessful GET. status = 'ERROR', msg = 'Not Found.'; Unsuccessful GET. status = 'ERROR', msg = 'Not Found.';

Évaluation éditoriale

Auteur

D’autres ont aussi acheté

Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications 13C1C22C-E985-48E6-98D6-FF5E0D960169
Lifetime Spectroscopy: A Method Of Defect Characterization In Silicon For Photovoltaic Applications
https://dynamic.indigoimages.ca/v1/books/books/3540253033/1.jpg
481.95
Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
https://dynamic.indigoimages.ca/v1/books/books/3642064531/1.jpg
481.95