Acheter maintenant et ramasser en magasin

  • Couverture_Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Aperçu gratuit du livre Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis, and Applications

Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis, and Applications

Xinmao Yin , Andrew T. S. Wee , Chi Sin Tang
11 avril 2022
138,95 $
Prix en ligne. Les prix et les offres peuvent différer en magasin.
.
.    En Savoir Plus
Commande minimum de  1 articles
Vente ferme. Aucun retour ou échange.
La livraison de cet article sera effectuée sur rendez-vous par notre transporteur partenaire.

M’expédier cet article

Vérification des stocks…

Acheter maintenant et ramasser en magasin

Vérification des stocks…

Trouver en magasin

Vérification des stocks…

Obtenez 695 points et profitez d’un rabais additionnel avec plum+.  .

Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
208
Publié par: Wiley
Dimensions à l’expédition: 10" H x 7" W x 0" L
ISBN: 9783527349517
Étape de vie: null

Vous aimerez peut-être aussi

Cotes et évaluations

  • bvseo_sdk, dw_cartridge, 18.2.0, p_sdk_3.2.0
  • CLOUD, getReviews, 6ms
  • reviews, product
  • bvseo-msg: Unsuccessful GET. status = 'ERROR', msg = 'Not Found.'; Unsuccessful GET. status = 'ERROR', msg = 'Not Found.';

Évaluation éditoriale

Auteur

D’autres ont aussi acheté

Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis, and Applications CE717577-5A17-4B30-8670-2D1AF48ABDC8
Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis, and Applications
https://dynamic.indigoimages.ca/v1/books/books/3527349510/1.jpg
138.95
Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis, and Applications
https://dynamic.indigoimages.ca/v1/https://cdn.kobo.com/book-images/61a50171-9484-4a50-8169-6b432027d457/300/300/False/image.jpg
111.99