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Aperçu gratuit du livre Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology

Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology

David C Cox
1 octobre 2015
156,00 $
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
104
Iop Concise Physics
Publié par: Morgan & Claypool Publishers LLC-IOP
Dimensions à l’expédition: 10" H x 7" W x 1" L
ISBN: 9781643278469
Étape de vie: null

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