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Aperçu gratuit du livre Intrinsic Point Defects, Impurities, And Their Diffusion In Silicon

Intrinsic Point Defects, Impurities, And Their Diffusion In Silicon

Peter Pichler
2 juin 2004
428,95 $
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
554
Computational Microelectronics
Publié par: Springer Vienna
Dimensions à l’expédition: 10" H x 7" W x 1" L
ISBN: 9783211206874
Étape de vie: null

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