Aperçu gratuit du livre Field Emission Scanning Electron Microscopy: New Perspectives For Materials Characterization

Field Emission Scanning Electron Microscopy: New Perspectives For Materials Characterization

Nicolas Brodusch , Hendrix Demers , Raynald Gauvin
6 octobre 2017
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
137
SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology
Publié par: Springer/Sci-Tech/Trade
Dimensions à l’expédition: 9" H x 6" W x 1" L
ISBN: 9789811044328
Étape de vie: null

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