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  • Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Aperçu gratuit du livre Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach

Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach

Xiaowei Li , Guihai Yan , Cheng Liu
3 mars 2024
321,50 $
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
304
Publié par: Springer Nature
Dimensions à l’expédition: 9" H x 6" W x 1" L
ISBN: 9789811985539
Étape de vie: null

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