Acheter maintenant et ramasser en magasin

  • Couverture_Applied Scanning Probe Methods IX
Aperçu gratuit du livre Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization

Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization

11 janvier 2008
248,50 $
Prix en ligne. Les prix et les offres peuvent différer en magasin.
Commande minimum de  1 articles
Vente ferme. Aucun retour ou échange.
La livraison de cet article sera effectuée sur rendez-vous par notre transporteur partenaire.

M’expédier cet article

Vérification des stocks…

Acheter maintenant et ramasser en magasin

Vérification des stocks…

Trouver en magasin

Vérification des stocks…


Obtenez 1 243 points et profitez d’un rabais additionnel avec plum+.  .

Description

Publié par: Springer/Sci-Tech/Trade
Dimensions à l’expédition: 9" H x 6" W x 1" L
ISBN: 9783540740827
Étape de vie: null

Cotes et évaluations

  • bvseo_sdk, dw_cartridge, 18.2.0, p_sdk_3.2.0
  • CLOUD, getReviews, 4ms
  • reviews, product
  • bvseo-msg: Unsuccessful GET. status = 'ERROR', msg = 'Not Found.'; Unsuccessful GET. status = 'ERROR', msg = 'Not Found.';

Évaluation éditoriale


Auteur


Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization 62166F2C-A5A2-4F3C-84C1-07D99E441F0F
Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization
https://dynamic.indigoimages.ca/v1/books/books/3540740821/1.jpg
248.5
Applied Scanning Probe Methods I
https://dynamic.indigoimages.ca/v1/books/books/3540005277/1.jpg
248.5
Applied Scanning Probe Methods VIII: Scanning Probe Microscopy Techniques
https://dynamic.indigoimages.ca/v1/books/books/3540740791/1.jpg
248.5