Anomalous X-ray Scattering For Materials Characterization: Atomic-scale Structure Determination

Name: Anomalous X-ray Scattering For Materials Characterization: Atomic-scale Structure Determination
Author: Yoshio Waseda
ISBN: 9783540434436

Yoshio Waseda

11 septembre 2002

321,50 $

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Springer Tracts in Modern Physics

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Nom du produit	Anomalous X-ray Scattering For Materials Characterization: Atomic-scale Structure Determination
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Étape de vie	null
Convient aux personnes de	null
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Dimensions à l’expédition	9" H x 6" W x 1" L
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Couleur	null
Famille de couleurs	null
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Langue	anglais
Va au four à micro-ondes	null
Genre	null
Va au lave-vaisselle	null
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Piles requises	null
Piles incluses	null
Écologique	null
Exclusivité Indigo	null
Du Canada	null
Ingrédients	null
Allergènes	null
Cote ESRB	null
Style de la carte-cadeau	null
Type de carte-cadeau	null
Format	Hardcover
Pages	214
Date de sortie	11 septembre 2002
Publié par	Springer/Sci-Tech/Trade
ISBN	9783540434436

Anomalous X-ray Scattering For Materials Characterization: Atomic-scale Structure Determination

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