Aperçu gratuit du livre Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Alberto Bosio , Luigi Dilillo , Patrick Girard
3 septembre 2014
155,95 $
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
171
Publié par: Springer US
Dimensions à l’expédition: 9" H x 6" W x 1" L
ISBN: 9781489983145
Étape de vie: null

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